信頼性とメンテナンスの容易さを確保するために、テスト性を念頭に置いてデジタル回路の設計は不可欠です。 試験性は、欠陥やエラーのために簡単にテストできる回路の作成、デバッグ時間を減らし、全体的な品質を向上させることを含みます。 この記事では、テスト可能なデジタル回路の設計で使用される標準と技術を探ります。

試験性設計の基準

スタンダードは、テスト可能なデジタル回路の開発のためのガイドラインを提供します。彼らは、異なるシステムとテスト方法の一貫性と互換性を保証します。共通の基準は、IEEE 1149.1もJTAGとして知られており、テストとデバッグの集積回路の標準インターフェイスを定義しています。

これらの基準に従うと、設計者は、初期設計段階の試験機能を組み込むのに役立ちます。これにより、より簡単な欠陥の検出と診断を後で容易にすることができます。

試験性を高めるための技術

デジタル回路の安定性を向上させるために、いくつかの技術が使用されます。これらには、

  • 検査性の設計(DfT):[ テストポイントとスキャンチェーンを組み込んでテストを容易にします。
  • [自己テスト(BIST):])で自己診断を行う回路内の試験能力を埋め込む。
  • フォールトモデル:]] 、 スタックトアット障害のようなモデルを使用して、潜在的なエラーをシミュレートし、検出します。
  • 境界スキャン:]]] 境界スキャンセルを使用して、チップ間の相互接続をテストします。

試験性の利点

デジタル回路の試験機能の実装には、いくつかの利点があります。テスト時間を短縮し、欠陥のカバレッジを改善し、デバッグプロセスを簡素化します。さらに、最終製品の信頼性を高め、寿命にわたってメンテナンスコストを削減します。