결정 고체의 결함을 식별하는 것은 재료 특성과 성능을 향상시키기 위해 필수적입니다. 다양한 전략은 이러한 불완전을 효과적으로 감지하고 분석 할 수 있습니다.

Microscopic 기술

Microscopic 방법은 직접 결함을 관찰하기 위해 일반적으로 사용됩니다. 광학 현미경 검사, 전자 현미경 검사 (SEM) 및 전송 전자 현미경 검사 (TEM)와 같은 기술은 디바이저, 백신 및 크리스탈 구조 내에서 상호 작용의 상세한 시각화를 허용합니다.

Diffraction 방법

Diffraction 기술은 완벽한 결정성에서 탈선을 식별하는 데 도움이됩니다. X-ray diffraction (XRD)는 디퓨저레이션 패턴의 변화에 의한 변형, 분리 및 겹쳐 쌓이는 결함을 감지 할 수 있습니다. TEM의 Electron diffraction은 크리스탈 불완전에 대한 현지화 된 정보를 제공합니다.

Spectroscopic 분석

분광계 방법은 전자 또는 진동 상태의 변화를 통해 결함의 존재를 알 수 있습니다. 광경 (PL), Raman 분광기 및 전자 기적 공명 (EPR)과 같은 기술이 점 결함과 불순 관련 불완전을 감지하는 데 유용합니다.

문제 해결 접근

효과적인 결함 ID는 다수 기술을 결합합니다. 현미경 관측으로 시작해서, diffraction와 분광 분석에 의해, 종합적인 통찰력을 제공합니다. 자료를 분석하는 것은 결정 내의 결점의 유형, 농도 및 배급을 결정하는 것을 돕습니다.