크리스탈 결함은 재료의 속성에 크게 영향을 줄 수 있습니다. Diffraction 기술은 이러한 결함을 식별하고 분석하기위한 필수 도구입니다. 이 문서는 diffraction 방법을 통해 크리스탈 제과의 탐지에 사용되는 실제 방법을 논의합니다.

Diffraction 기술의 기본

Diffraction 기술은 크리스탈 격자와 X-ray, neutrons 또는 전자의 상호 작용을 포함합니다. 이러한 파도가 결함을 발생하면 크리스탈 구조와 불완전에 대한 정보를 공개하는 특성 패턴을 생성합니다.

Crystal Defects를 검출하는 일반적인 방법

  • X-ray Diffraction (XRD): lattice distortions 및 변형을 식별하는 데 사용 피크 이동과 넓은화.
  • Transmission Electron Microscopy (TEM): 원자 해상도에서 결함의 직접 이미징을 제공합니다.
  • Neutron Diffraction: 가벼운 요소에 대한 민감성 및 미묘한 구조 변화를 감지 할 수 있습니다.

Diffraction 분석의 실제 단계

결정 결함을 식별하려면, 선명한 판단은 일반적으로 샘플을 준비하고, 확산 측정을 수행하고 결과를 분석합니다. 피크 위치, 강렬 및 폭의 변화는 변위, 예방 접종 또는 결함과 같은 결함의 존재를 나타냅니다.

주요 지표의 요약

  • Peak Wideening는 긴장 또는 작은 crystallite 크기를 건의합니다.
  • 피크 교대는 격자 왜곡을 나타냅니다.
  • 추가 봉우리 또는 어깨는 이차 단계 또는 겹쳐 쌓이는 결함을 계시할 수 있습니다.