MOSFET의 신뢰성과 수명을 평가하는 것은 튼튼한 전자 시스템을 설계하는 데 필수적입니다. 정확한 평가는 실패를 방지하고 장치 수명을 연장하는 데 도움이됩니다. 여러 실용적인 방법은 MOSFET 성능을 시간 이상 평가하는 데 사용됩니다.

열 응력 테스트

열 응력 테스트는 장기간 사용량을 가장 높은 온도에서 MOSFET를 운영합니다. 이 방법은 열 런웨이 또는 재료 분해와 같은 열과 관련된 잠재적 인 실패 모드를 식별하는 데 도움이됩니다. 테스트 중에 장치 매개 변수를 모니터링하는 것은 열 안정성과 신뢰성으로 통찰력을 제공합니다.

전기 응력 테스트

전기 응력 테스트는 자신의 내구시간을 평가하기 위하여 MOSFETs에 고전압 또는 현재를 적용합니다. 이 과정은 장치의 문 산화물 다른 성분에 있는 약점을 계시할 수 있습니다. 다른 전기 조건 하에서 반복된 테스트는 수명과 실패 확률을 견적하는 것을 돕습니다.

생활의 질 향상

가속된 수명 테스트는 높은 온도와 전압과 같은 극단적으로 조건에 MOSFETs를, 실패 기계장치를 가속화하기 위하여 주제를 포함합니다. 이 시험에서 수집된 자료는 정상적인 운영 조건의 밑에 장치의 예상된 수명을 모형하기 위하여 이용됩니다. 이 접근은 장기 신뢰성의 실제적인 견적을 제공합니다.

핵심 신뢰성 지표

  • 실패 (MTTF)에 대한 시간:] 실패하기 전에 평균 가동 시간.
  • 실패율: 지정된 기간 동안 실패의 빈도.
  • 열저항:열을 분해하지 않고 방사성할 수 있는 능력.
  • Gate Charge: 에너지는, 신뢰성에 영향을 미치는 장치를 전환해야 합니다.