반도체 온도 센서는 정확도와 통합의 용이성을 위해 널리 사용됩니다. 그러나, 그들은 종종 측정 정밀도에 영향을 미칠 수있는 비선형 행동을 전시합니다. 이러한 비선형을 이해하고 교정 방법을 구현하는 것은 신뢰할 수있는 온도 판독에 필수적입니다.

반도체 센서의 비선형의 자연

반도체 온도 센서, 다이오드 또는 트랜지스터 기반 장치와 같은, 자신의 전기 특성의 온도 의존에 의존. 전압과 온도 사이의 관계는 완벽하게 선형이 아니며, 특히 넓은 온도 범위에 있습니다. 비 선형성에 기여하는 요인은 재료 특성, 장치 제작 변형 및 기생충 효과를 포함합니다.

온도 측정에 충격

비선형 행동은 제대로 해결되지 않는 경우에 inaccuracies에 지도할 수 있습니다. 예를 들면, 감지기는 특정점에 실제 온도 보다는 더 높거나 더 낮을지도 모릅니다, 구경측정 과실을 일으키는 원인이 됩니다. 이것은 산업 통제 또는 과학적인 연구와 같은 높은 정밀도를 요구하는 신청에서 특히 문제적입니다.

비선형을 교정하는 방법

몇몇 접근법은 반도체 온도 감지기에 있는 비선형을 정확한하기 위하여 사용될 수 있습니다:

  • Calibration Curves: 정확한 판독을 상호포화하기 위한 작용 온도 편차에 상세한 구경측정 곡선을 설치합니다.
  • Polynomial Fitting: 센서의 응답과 정확한 측정을 모델링하는 수학 폴리노마이셜 방정식을 적용한다.
  • Lookup Tables: 실제 온도에 대한 원시 센서 출력을 지도하는 사전 처리 테이블을 사용하여.
  • Hardware Compensation:] 측정 전 출력 신호를 선형화하는 회로를 전개한다.

이러한 교정 기술을 구현하는 다양한 응용 분야의 반도체 온도 센서의 정확도와 신뢰성을 향상시킵니다.