반도체의 밴드 간격을 이해하는 것은 전자 장치를 설계하고 최적화하는 데 필수적입니다. 정확한 특성 기술은 장치 성능에 영향을 미치는 공병 및 유도 밴드 사이의 에너지 차이를 결정하는 데 도움이되는 것입니다. 이 문서는 반도체 밴드 간격을 효과적으로 측정하기 위해 실제 애플리케이션에서 사용되는 실제 방법을 탐구합니다.

광학 흡수 Spectroscopy

광학적인 흡수 분광기는 밴드 간격을 결정하기 위하여 널리 이용되는 기술입니다. 그것은 다른 파장에 얼마나 많은 빛이 물자 흡수하는 것을 측정합니다. 광경에는 밴드 간격 보다는 에너지 동등한 것, 흡수 증가가 현저하게 증가합니다. 흡수 스펙트럼을 분석해서, 밴드 간격은 정확하게 견적될 수 있습니다.

광경(PL) 분광광

광경은 광원과 발광광을 측정하는 반도체를 흥미 진진한 빛과 결합합니다. 방출된 광경은 밴드 간격의 전방과 구멍의 재조합에 대응합니다. 방출 스펙트럼은 밴드 간격의 에너지를 나타내고, 비파괴적인 측정 방법을 제공합니다.

전기 특성화 기술

전류 전압 (I-V) 및 용량 전압 (C-V) 측정과 같은 전기 방법은 밴드 간격을 추정 할 수 있습니다. 이 기술은 다른 분노의 밑에 반도체의 전기 응답을 분석합니다. 그들은 광학적인 방법 제한될지도 모르다 얇은 영화와 장치 구조를 위해 특히 유용합니다.

추가 방법 및 고려

다른 기술은 상세한 전자 구조 정보를 제공하는 갱도 검사 및 광전자적인 검사를 포함합니다. 물자 유형 표본 질과 같은 방법, 요인을 선정할 때, 측정 환경은 정확한 결과를 지키기 위하여 고려되어야 합니다.