반도체의 운반대 이동성 측정 기술

반도체의 측정 캐리어 이동성은 전기적 특성에 대한 필수적입니다. 정확한 측정 기술은 전자 장치의 개발 및 최적화에 도움이 됩니다. 몇몇 방법은 재료 내에서 신속하게 운송업체가 어떻게 이동했는지 결정하는 데 사용됩니다.

홀 효과 측정

홀 효과는 측정 캐리어 이동성을위한 널리 사용되는 기술입니다. 그것은 반도체의 전류 흐름에 자기 분야 수직을 적용하는 것을 포함한다. 결과 홀 전압은 캐리어 농도와 이동성에 비례합니다.

이 방법은 운반대 유형과 이동성 둘 다에 관하여 직접 정보를 제공합니다. 그것은 얇은 영화 및 대량 물자를 위해 적당하 연구 실험실에서 통용됩니다.

시간의 Flight (TOF) 기술은 적용된 전기 분야의 밑에 표본의 맞은편에 운반대의 transit 시간을 측정합니다. 짧은 레이저 맥박은 운반대를 생성하고, 그들의 운동은 시간 이상 추적됩니다.

이 방법은 고착성 물질에 효과적이며 캐리어 동적에 대한 정보를 제공합니다. 그것은 전문 장비를 필요로하고 고급 연구 설정에서 자주 사용됩니다.

캐리어 이동성은 또한 필드 효과 트랜지스터의 전기 특성에서 추출 될 수 있습니다. 전송 및 출력 곡선 분석에 의해, 채널의 충전 캐리어의 이동성 계산 될 수 있습니다.

반도체 장비 제조 및 테스트에 대한 기술이 실용적입니다. 실제 장치 운영 조건에 관련된 이동성 데이터를 제공합니다.