실리콘 크리스탈은 전자 기기에 필수적인 부품입니다. 이 크리스탈 내에서 결함은 전기적 특성과 전반적인 성능에 영향을 미칠 수 있습니다. 일반적인 결함을 식별하고 문제 해결은 제조에 사용되는 고품질 실리콘을 보장하기 위해 중요합니다.

실리콘 크리스탈의 일반적인 결함의 종류

몇몇 유형의 결점은 실리콘 결정에서, 점 결점, 분리 및 불순 포함될 수 있습니다. 각 결점 유형은 결정의 재산을 다르게 충격하고 특정한 문제 해결 방법을 요구합니다.

성능에 대한 결함의 효과

결함은 대역폭을 증가시키고 전기 저항, 감소된 운반대 이동성 및 감소된 장치 효율성에 지도하는 Bandgap 내의 원치 않는 에너지 수준을 소개할 수 있습니다. 가혹한 경우에, 결함은 장치 고장을 일으킬 수 있습니다.

일반적인 문제 해결 기술

  • microscopy를 사용하여 시각 검사는 표면 결함을 식별합니다.
  • 저항력과 캐리어 수명 측정과 같은 전기 테스트를 실시합니다.
  • X-ray diffraction를 사용하여 분해 및 내부 변형을 감지합니다.
  • 결정 표면에 결함 위치를 계시하는 화학 etching 적용.

예방 조치

결정 성장, 깨끗한 환경을 유지하고, 고순도 원료를 사용하여 엄격한 통제를 실행하는 것은 결점 형성을 감소시킬 수 있습니다. 일정한 검사 및 품질 관리는 또한 이른 탐지를 위해 근본적입니다.