빔 경화 식은 산업에 의하여 계산된 투과율 (CT) 검사에 있는 일반적인 문제입니다. 이 artifacts는 세부사항을 손상하고 결함 검출의 정확도를 감소시킬 수 있습니다. 이 기사는 이 artifact가 효과적으로 해결된 실제 사례 연구를 선물합니다.

검사의 배경

강철로 만든 산업용 부품은 CT 스캐닝에 적용되어 내부 결함을 식별합니다. 초기 검사는 이미지의 선명도를 손상시키고 정확한 분석을 방해하는 중요한 빔 경화 식각을 밝혀냈습니다.

도전정신

1차 도전은 다색 X선 빔을 강하게 하게 하는 밀도 재료의 존재였다. 이 결과 이미지의 스레크와 어두운 밴드에서, 실제 결함과 갑작스런 사이에서 구별하기 어렵다.

Solutions 구현

팀은 효력을 강하게 하는 mitigate 광속에 몇몇 전략을 적용했습니다:

  • Hardware Adjusts: 필터를 사용하여 객체와 상호 작용하기 전에 빔을 미리 데리고 있습니다.
  • Software Correction: 이미지 재구성 중 빔 경화 교정 알고리즘 구현.
  • 물자 구분: 대상 교정을 적용하는 디센스 영역의 차이.

결과 및 결과

이 측정을 적용한 후 CT 이미지는 artifacts에서 상당한 감소를 보였습니다. 구성 요소의 내부 기능은 명확하게되어 정확한 결함 검출 및 평가를 가능하게 합니다. 이 경우 산업 CT 검사에 결합된 하드웨어 및 소프트웨어 솔루션의 효과를 입증했습니다.