단계 경계는 물자 재산과 행동을 이해하는 데 중요합니다. 이 경계의 정확한 해석은 단계 변화, 안정성 및 물자 성과 분석에 도움 입니다. 각종 기술은 정밀도로 단계 경계를 시험하기 위하여 이용됩니다.

광학적인 Microscopy

광학 현미경 검사는 관찰 단계 경계를 위한 일반적인 방법입니다. 그것은 다른 단계 사이 공용영역으로 시각적인 통찰력을 제공합니다. Proper 표본 준비 및 점화는 명확한 시각화를 위해 근본적입니다.

이 기술은 경계선 변종의 식별과 경계선 폭의 측정을 허용합니다. 그것은 광택과 외계 국가에서 금속 및 합금에 특히 유용합니다.

스캔 전극 현미경 (SEM)

SEM은 광학 현미경 검사와 비교된 단계 경계의 더 높은 해결책 화상을 제안합니다. 그것은 에너지 분산 X 선 분광 검사 (EDS)를 통해서 상세한 지상 토리 및 구성 정보를 제공합니다.

이 기술은 복잡한 미세 구조 분석에 대한 가치이며 광학 방식으로 보이지 않는 미묘한 경계 기능을 감지합니다.

X-ray 디퓨저레이션 (XRD)

XRD는 단계와 경계의 결정적인 성격을 결정하기 위하여 이용됩니다. 그것은 단계 구성 및 결정성의 정도를 식별하는 것을 돕습니다.

연구원들은 다른 단계와 그들의 인터페이스의 존재를 infering diffraction 패턴을 분석하여 특히 다결정 재료에서.

정확한 해석을 위한 기술

  • artifacts를 피하기 위해 적절한 샘플 준비를 보장합니다.
  • 종합분석을 위한 여러 기법을 결합합니다.
  • 정확한 측정을 위한 이미지 분석 소프트웨어를 사용하십시오.
  • 구성 분석과 함께 미생물 데이터를 Correlate.