테스트 및 검증 디지털 전자 회로는 적절한 작동 및 신뢰성을 보장하기 위해 필수적입니다. 다양한 실용적인 방법은 결함을 식별하고 기능 확인 및 회로 디자인을 개선하는 데 사용됩니다. 이 문서는 테스트 및 검증 과정에서 고용 된 일반적인 기법을 논의합니다.

기능적인 시험

기능 테스트는 회로가 정상 작동 조건 하에서 의도 된 기능을 수행하는지 검사합니다. 그것은 입력 신호를 적용하고 정확한 작동을 확인하기 위해 출력 응답을 관찰합니다. 이 방법은 논리 오류와 결함 구성 요소를 식별하는 데 도움이됩니다.

Boundary 검사 테스트

Boundary 검사 테스트는 JTAG 테스트로도 통합 경계 검사 셀을 가진 복잡한 회로에 사용됩니다. 그것은 내부 노드에 물리적 액세스 없이 개방 또는 단락 같이 상호 연결 및 검출 결함을 테스트 할 수 있습니다. 이 방법은 조립 회로 기판에 효율적입니다.

자동화된 시험 장비 (ATE)

자동화된 시험 장비는 디지털 회로의 포괄적인 테스트를 수행하기 위하여 전문화한 기계설비 및 소프트웨어를 이용하고 포함합니다. ATE는 시험의 시리즈를 빨리 실행할 수 있고, 모수를 측정하고, 결과를 기록하고, 대량 생산 테스트 및 품질 관리를 위해 적당한 만들기.

일반적인 테스트 기술

  • In-Circuit Testing:는 개별 구성품과 연결이 전달된 회로 기판에 검사합니다.
  • 기능 테스트: 실제 또는 가장 입력된 입력으로 전체 회로 작동을 검증합니다.
  • Signal Analysis: 신호 파형과 타이밍을 관찰하기 위해 oscilloscopes 및 논리 분석기를 사용합니다.
  • Fault Simulation:는 검출 기능을 테스트하는 알려진 결함을 소개합니다.