통계 프로세스 제어 (SPC)는 모니터링 및 제어 제조 프로세스에 사용됩니다. 특수 변형의 특수 원인을 감지하고 프로세스를 개선하는 데 필수적입니다. 양적 방법은 이러한 원인을 정확하게 식별하는 객관적 도구를 제공합니다.

특수 원인 이해

특수 원인은 프로세스에 inherent되지 않는 변형이며 특정 이벤트 또는 변경을 나타냅니다. 이러한 원인을 식별하고 문제를 수정하고 결함을 방지 할 수 있습니다.

일반적인 양적 기술

몇몇 양적 방법은 통제 도표, 과정 기능 분석 및 통계적인 hypothesis 테스트를 포함하여 SPC에 있는 특별한 원인을 검출하기 위하여 이용됩니다. 이 기술은 특별한 원인의 일반적인 원인 변과 신호 사이에서 구별하는 것을 돕습니다.

제어 차트

제어 차트는 시간이 지남에 따라 프로세스 데이터를 플로팅하는 그래픽 도구입니다. 그들은 변화의 예상 범위를 정의하는 제어 한계를 포함합니다. 제한 내에서 이러한 제한 또는 패턴 외부 포인트는 특별한 원인의 존재를 나타냅니다.

검출 방법

주요 탐지 방법 포함:

  • 서양 전기 규칙: 제어 차트에 대한 신호를 식별하기위한 표준의 집합.
  • Run Tests: 데이터 시퀀스에서 비 무작위 패턴을 감지합니다.
  • Shewhart Rules: 제어 제한이나 트렌드를 넘어 포인트를 식별합니다.
  • Statistical Hypothesis Testing: 관찰된 변형이 스테이트로 크게 중요하다면 테스트.