Difracţia razelor X (XRD) este o tehnică folosită pentru analiza structurii cristalului materialelor. Acesta furnizează date care pot fi folosite pentru a calcula distanţele interplanare, care sunt distanţe între planurile atomice într-un cristal. Înţelegerea modului de interpretare a datelor XRD este esenţială pentru caracterizarea şi analiza materialelor.

Înțelegerea datelor privind difracția cu raze X

Datele XRD sunt prezentate de obicei ca un model de difracție, care prezintă vârfuri la unghiuri specifice. Aceste vârfuri corespund difracției razelor X de către planurile de cristal. Poziția fiecărui vârf este legată de distanța interplanară prin Legea lui Bragg.

Calculez spaţiile interplanare

Legea lui Bragg este ecuaţia fundamentală folosită pentru calcularea spaţiilor interplanare. Este exprimată ca:

nλ = 2d sin θ

unde:

  • n este ordinea difracției (de obicei 1)
  • λ este lungimea de undă a razei X
  • d este distanța interplanară
  • θ este unghiul Bragg (jumătate din unghiul de difracție)

Rearanjarea ecuației pentru a rezolva d dă:

d = λ / (2 sin θ)

Aplicarea calculului

Pentru a determina distanţa interplanară, măsuraţi unghiul de difracţie (2θ) de la model. Divizează acest unghi cu 2 pentru a găsi θ. Utilizaţi lungimea de undă cunoscută a sursei de raze X, de obicei 1,54 Å pentru radiaţia Cu Kα. Conectaţi aceste valori în formula pentru a calcula d.

De exemplu, dacă apare un vârf la 2θ = 30°, atunci θ = 15°.

d = 1.54 Å / (2 sin 15°)