Kỹ thuật phân tách tia X (XRD) là phân tích cấu trúc tinh thể của vật liệu. Nó cung cấp dữ liệu có thể được sử dụng để tính toán khoảng cách giữa các máy bay phản ứng, trong một tinh thể. Hiểu cách giải thích dữ liệu XRD là thiết yếu cho tính chất và phân tích vật chất.

Hiểu dữ liệu khuếch tán tia X

Dữ liệu XRD thường được trình bày như một mô hình phân tán, hiển thị đỉnh ở các góc cụ thể. Những đỉnh này tương ứng với sự tách rời của tia X-quang của máy bay tinh thể. vị trí của mỗi đỉnh là liên quan đến khoảng cách giữa các đỉnh của các đỉnh trong định luật của Bragg.

Tính toán khoảng cách giữa các tầng lớp

Định luật của Bragg là phương trình cơ bản được dùng để tính toán khoảng cách giữa các loài hoa.

n [FLT:] Tội lỗi 2d

Ở đâu:

  • n là thứ tự của sự phân tách (thường là 1)
  • là bước sóng của tia X
  • d là khoảng cách giữa các loài hoa
  • là góc Bragg (nửa góc quay)

Sắp xếp lại phương trình để giải cho d cho:

d = xét xử / (tội lỗi )

Áp dụng tính toán

Để xác định khoảng cách giữa hai bảng, đo góc phân cách (Graverction) từ mẫu. Chia góc này cho 2 để tìm BAR . Dùng bước sóng đã biết của nguồn X-quang, thường là 1.54 cho trình phóng xạ Cu K K.

Ví dụ, nếu một đỉnh xuất hiện ở 2 độ C, thì BAR bằng 15 độ.

[FLT: 1.54] [(tội lỗi 15 °] [FLT: 1] / 2.