Chữ viết vô tuyến là một phương pháp thử nghiệm thông thường không phá hủy được dùng để phát hiện lỗi trong vật liệu. Giá trị chính xác kích cỡ và độ sâu của lỗi, là thiết yếu để đánh giá độ toàn vẹn của các thành phần. Bài này thảo luận về các phương pháp và tính toán được dùng để xác định chiều sai dựa trên ảnh chụp vô tuyến và cung cấp các ví dụ thực tế.

Nguyên tắc cơ bản của việc phát hiện ra luật pháp

Thử nghiệm quang học bằng radio bao gồm việc chiếu tia X hay gamma qua một vật liệu và chụp ảnh kết quả trên phim hay máy dò kỹ thuật số.

Đang tính cỡ luật

Kích cỡ hiển thị lỗi trên ảnh chụp vô tuyến phụ thuộc vào kích cỡ thật, kích cỡ hình học của đối tượng, và thiết lập quang học. Công thức cơ bản liên quan kích cỡ ảnh với kích cỡ thực sự của lỗi:

Kích cỡ Flaw (D) = kích cỡ ảnh (d) × Phóng đại [FLT: 1)

Yếu tố phóng đại được xác định bởi hình học của thiết lập, tính toán như:

M = (SID) / )

Nơi mà SID có khoảng cách từ xa đến hình ảnh và SOD là khoảng cách từ nguồn đến mục tiêu.

Ước tính độ sâu của pháp luật

Tính toán sai phạm thường bao hàm việc phân tích sự tương phản và hình dạng của hình ảnh sai sót.

Một cách thông thường dùng độ dày của bước, nơi mà độ dày được biết đến được ví như ảnh sai. Độ sâu (d) có thể ước lượng bằng quan hệ:

d = (bắp vá lỗi) / (Contrast of tiêu chuẩn) × đã biết sâu )

Ví dụ thế giới thật

Một thành phần thép được kiểm tra bằng một thiết lập quang đại cho thấy SID 100 cm và SOD là 80 cm. Một lỗi quan sát được xuất hiện như là một hình ảnh 2 cm trên radiograph. Hệ số phóng đại là:

M = 100 / 80 = 1.25

Kích cỡ thực sự của lỗi là:

D = 2 cm × 1.25 = 2.5 cm )

Dùng các tiêu chuẩn cân chỉnh, người ta ước lượng độ sâu của độ sâu khoảng 1,5 mm dựa trên phân tích tương phản.