射线法是一种常见的无损测试方法,用于检测材料的缺陷. 准确估计缺陷大小和深度对于评估组件完整性至关重要. 本条讨论根据射线图像确定缺陷维度的方法和计算,并提供现实世界的例子.

非法侦查的基本原则

放射学测试涉及通过材料通过X射线或伽马射线,并在胶片或数字探测器上捕捉由此产生的图像. 裂缝或空隙等裂缝作为密度不同的区域出现,这些缺陷的大小和深度可以通过分析对比度和维度从图像中推断出来.

计算虚弱大小

放射图上的明显缺陷大小取决于实际缺陷大小,物体几何,以及射线布局. 基本公式将图像大小与实际缺陷大小联系起来:

Flaw Size(D) =图像大小(d)×放大系数(M)]

放大系数由设置几何决定,计算为:

M = (SID)/ (SOD)]

在SID是源到图像距离的地方,SOD是源到对象距离的地方.

估计法尔法深度

法拉夫深度估计通常涉及分析缺陷图像的对比度和形状。 更深的缺陷往往会产生与浅的对比度不同的模式。 与已知标准校准对于准确的深度测量至关重要。

一种常见的方法是采用步楔校准,即将已知厚度与瑕疵图像进行比较。

d=(缺陷的连结)/(标准连结)×已知深度].

真实世界实例

检查钢构件时采用放射装置,电离层离子体距100厘米,SOD为80厘米。

M = 100/80 = 1.25 ]

实际缺陷大小为:

D=2厘米×1.25=2.5厘米]

采用校准标准,根据对比分析,瑕疵深度估计约为1.5毫米.