相位阵列超音速测试(PAUT)是一种无损测试方法,用于检测和定性材料缺陷,它提供了缺陷大小和位置的详细信息,对于评估结构完整性至关重要,本条解释了使用PAUT数据计算缺陷大小和位置的基本步骤.

了解数据

PAUT 生成一系列超音速信号,以 B-扫描或 C-扫描显示。这些图像显示检测缺陷的反射点。数据包括飞行时间、振幅和测试时探测器的位置。

计算虚构位置

缺陷的位置由分析飞行时间和探测器的位置决定,从探测器到缺陷的距离是利用材料中的音速和超音波前往缺陷和回向所需的时间来计算.

所使用的公式是:

散射=(在材料中发出声音)x(飞行时间/2)]

通过将这个与探测器已知位置相结合,可以绘制出材料中瑕疵的确切位置.

计算虚弱大小

缺陷的大小是根据反射超音速信号的振幅来估计的,较大的缺陷往往会产生更高的振幅信号. 已知缺陷大小的校准有助于提高准确性.

此外,A-扫描中回声的宽度可以表示缺陷的程度。 通过测量反射信号的持续时间,可以推断缺陷的大致大小。

内 容 提 要

  • 分析超音速信号 找出缺陷反射
  • 利用飞行时间和音速计算出与缺陷的距离.
  • 根据振幅和回声宽度确定缺陷大小.
  • 将缺陷位置 放在评估材料中