晶体管噪声是敏感信号应用的一个重要因素,影响了测量的准确性和可靠性,了解噪声的起源和计算方法有助于工程师优化电路性能,将错误降到最低.

晶体管噪声类型

晶体管噪声主要包括热噪声、射噪声和闪烁噪声。 每种类型的源头和特性不同,都影响电路设计选择。

热噪声

热噪声,又称约翰逊-尼奎斯特噪声,是由充电载体在晶体管内随机运动而产生,与温度和带宽成正比.

计算晶体管噪声

使用噪音光谱密度和带宽上方的结合,可以估计总噪声电压。对于热噪声,公式是:

V n = ⁇ (4kTR ⁇ f)

其k]是博尔茨曼的常数,T是开尔文的温度,R是阻力,QQF是带宽.

最小化电路中的噪声

设计策略包括选择低噪声晶体管,减少带宽,在较低温度下运行。 适当的偏差和屏蔽也有助于降低噪音影响。