Table of Contents
পরীক্ষার সঙ্গে সহজে যাচাই করা, ত্রুটি ও ভুলের জন্য পরীক্ষা করা, ডিবাগ সময় ও গুণগত মানকে কমিয়ে আনার জন্য সহজেই পরীক্ষা করা যায় ।
পরীক্ষামূলক নকশার প্রমিত
সাধারণ মানের মধ্যে রয়েছে আইইইইইইইই ১১৪.১, যেটি জেটিজি নামে পরিচিত, যা পরীক্ষা এবং ডিবাগ করার জন্য আদর্শ ইন্টারফেস স্থাপন করে থাকে ।
এই মানগুলো মেনে চলা নকশার প্রাথমিক পর্যায়গুলোতে ডিজাইনারদের পরীক্ষাগুলোর বৈশিষ্ট্যকে পরীক্ষা করতে সাহায্য করে, যা সমস্যাগুলোকে শনাক্ত করে ও পরে নির্ণয় করে ।
এনংসিং টেস্টের জন্য টেকনিক
ডিজিটাল সীমার পরীক্ষামূলকতা বৃদ্ধি করার জন্য বেশ কয়েকটা কৌশল ব্যবহার করা হয়।
- [[FLT] পরীক্ষার জন্য signif (DFT) signed [FR][FLT] পরীক্ষা পয়েন্টের সাথে সংযোজন করে পরীক্ষা পয়েন্ট সংযোজনের জন্য এবং অভিবীক্ষণের জন্য rected refed contedut]
- [[F] [FLT] [B] স্ব-বিজ্ঞতা (BISV] [FO[FIS]] [FONECT পরীক্ষা ক্ষমতার মধ্যে সীমা- print] উপস্থিত ক্ষমতা পূরণ করতে সীমার মধ্যে সীমা- print -donogy
- [[FLT] [F] ফ্যাল্ট মডেলগুলো:[FLT][FLT] মডেলগুলো ব্যবহার করে একটি মডেলকে আটকে দেওয়া-ট-ট-ট- এর মত এবং সম্ভাব্য ত্রুটি সনাক্ত করা যায় ।
- [[FLT] :[0]B8:[FOFLT] চিপের মধ্যে ইন্টারস্যাকেল পরীক্ষা করতে [FLT] ব্যবহার করুন ।
পরীক্ষার উপকারগুলো
ডিজিটাল সীমার বিভিন্ন বৈশিষ্ট্যের ওপর নির্ভর করা বিভিন্ন সুবিধা প্রদান করে ।