למה Active Clamping Outperforms Passive Diodes

הגנה מסורתית על יתר על המידה מסתמכת בדרך כלל על FLT:0Zener diodesFLT:1 או FLT:2transient Stress (TVS) diodesphs deLT 3) מרכיבים דיסקרטיים אלה הם פשוטים וזולים, אבל הם מציגים מגבלות משמעותיות במערכות דיוק אנלוגיות.

מדגמת מתח פעילה באמצעות מגבר תפעולי מתגברת על החסרונות האלה על ידי הפעלת פעולת קומפוטור דיוק.סף הדגימה נקבע על ידי מתח הפניה יציב ועצמאי ולא על פיסיקה המוליכים למחצה של צומת דיודה.זה אומר כי clamp לעסוק במדויק, חוזר על מתח מיקרו-פעמי ללא קשר לטמפרטורה או בהווה.המעבר החד מפעולתופתגן רגיל כדי לשמר את האותות הנכון עד גבול ההגנה האנלוגית, כלומר, כלומר, באופן משמעותי יותר, כלומר, באופן קבוע, הוא מסוגל באמת, באופן קבוע, מתאים את רמת בקרה גבוהה יותר, או קבוע, או קבוע, או קבוע, במקום שבו רמת בקרה גבוהה יותר, או מגובהו של זמן, או מגובהו של ה-מחץ, או מעצימה, הוא באמת, או עומס, או מעצימה, או מגובהו של רמת דיוק גבוהה יותר, או בהווה.

עקרון ההפעלה Core של Op-Amp Voltage Clamp

(ב) ב[[1924]], [[1924]]]], [[1924]]]]]], [[1924]]]]]], [[1924]]]]]], [[1924]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]

שקול קלמנט חיובי טיפוסי-voltage clamp: A P transistor או P-channel משוב מקבל את האות, בעוד שהקלט מופנם מתחבר לדיוק 3.3 V ההתייחסות. A P transistor או P-channel משוב של מ"מ"ק יושב בין קו האותות לבין לולאה יציבה 3.3 V. כאשר האות עולה 3.3 V, הפלט ה-Falamp עובר גבוה, ההטיה של העוברת בשני תצורה שלילית על גבי PTN.

התאמות חיוניות ובחירתם קריטריה

תכנון קלמפ פעיל חזק דורש תשומת לב זהירה לכל רכיב.הבחירות המרכיב ישירות לקבוע את הדיוק, המהירות והאמינות של מעגל ההגנה. להלן הוא התמוטטות מפורטת של רכיבי המפתח עם הנחיות בחירה והמלצות של חלק אמיתי בעולם.

המונחים: amplifier

הדגה היא האינטליגנציה של הדגדגן.עבור דיוק clamping במתחים היצע נמוך, לבחור מכשיר עם FLT:0rail-to-rail קלט ויכולת פלטה 1:1 זה מבטיח טווח קלט משותף-מומס כולל את מתח ההתייחסות, אפילו ליד ההיצע החיובי, והפלט יכול להתכווץ מספיק קרוב למסילות כדי לשלוט באופן מלא על המפרק השבר.

  • טווח המתח של LT:0 (Spply מתח טווח: FLT:1 חייב להכיל את העודף הצפוי ביותר בתוספת חדר ראש עבור שלב הפלט.
  • (FLT:0) Input offset מתח:FLT:1 נמוך מסט בטווח המיקרווולט, מתורגם ישירות לסף מדויק clamping. Auto-zero או חיתוך-עופרת של דגימה כגון OPA333 מטקסס מכשירים (השלב 2 μV, סחף 0.02 μV / C) או AD8638 ממכשירי אנליזה (off- 0,2 0.00) הם פחות 0.002 רזולוציה של 0.00 / 0.00) עם 0.00 / רזולוציה אופיינית, 000 / 0.00 / רזולוציה של 0.00) הם פחות 0.00 / 0.00 / 0.00 / 0.00 / 0.00 / 0.00) הם פחות 0.00 / 0.00 / רזולוציה של רזולוציה נמוכה יותר 0.00 / 0.00 / 0.00 / 0.00 / 0.00 / רזולוציה נמוכה יותר 0.00 / 0.00 / 0.00 / רזולוציה נמוכה יותר 0.00 / רזולוציה נמוכה יותר רזולוציה נמוכה יותר רזולוציה של רזולוציה של 0.00 / 0.00 / 0.00 / רזולוציה נמוכה יותר רזולוציה נמוכה יותר 0.00 / 0.00 / רזולוציה נמוכה יותר 0.00 / 0.00 / 0.00 / 0.00 / 0.01 עבור רזולוציה נמוכה יותר רזולוציה נמוכה יותר רזולוציה נמוכה
  • (FLT:0Slew rate and רוחב פס:FLT:1 The Op-amp חייב להגיב מהר יותר מאשר את העודף המהיר ביותר שאתה מתכוון לדגום. עבור קלטות ADC מהירות גבוהה, שיעור סלולים מעל 10 V / מיקרו עשוי להיות נחוץ. ADA8061 (180 V / מיקרו) או OPA835 V / מיקרו) מתאימים עבור transients עבור מהיר עבור אותות איטי יותר כמו מחסנים 5 / קיבולת נאותה של 5 / קיבולת 1 / קיבולת מלאה עם קיבולת 1 / קיבולת 1 / קיבולת היא 1 / קיבולת מלאה.
  • (FLT:0Output Drive Capacity:FLT:1) תפוקה הדגה חייב מקור או לשקוע מספיק זרם כדי להניע את הבסיס או את שער הטרנזיסטור ללא ריצוף. בדוק את הדירוג הנוכחי קצר-circuit; דגימה טיפוסי מספק 20 עד 80A.
  • (FLT:0) דיסיפה הפוכה: FLT:1 , דגימות עיניים ישנות יותר יכול למנוע את הפלט שלהם כאשר הקלט עולה על טווח ה-Mode המשותף.להבטיח שהמכשיר שנבחר מובטח ללא שינוי בשלב, או להגביל את המתח קלט עם סדרה מתנגדים ודגימות חיצוניות.

מקור: Voltage Source

הדיוק של סף הדגמה הוא רק טוב כמו ההתייחסות. A מתנגד דיבידנד מאספקת המערכת הוא לעתים רחוקות יציב מספיק; במקום זאת, להשתמש בשקיקה ייעודית או הפניה למתח של IC. Bandgap מציע סחף נמוך, עם דיוק ראשוני עד 0.1% וטמפרטורה ± נמוך כמו 25 pm / C. סדרת LM40 מספקת מתחים קבועים מ 1.225 ל 10 סובלנות מאפשר דיוק נמוך של Dana-D.

המונחים:

הפלט של הדגה שולט מתג מצב מוצק אשר פועל את זרם עודף. AFLT:0biקוט צומת טרנזיסטורלה 1 הוא פשוט לנהוג עם בסיס הנוכחי; מסלול FLT:2MOSFETFLT כולל את הבסיס הסטטיבי עבור זרם סטטי או IFKL.

ניהול דיוקס וניהול אספקה

מעבר למגבלה העיקרית, להוסיף דיודות שאקי כגון BAT54S מן האות node למסילות הרכבת החיובית וכדי לעמוד בפני התקפות ESD מהירות לפני שה-O-amp יכול להגיב. אלה גם להגן על קלטי דגי ה- AMP ממתחים ממעלים מוחלטים של סקווט אספקת הכוח חייב להיות מגובה בזהירות עם חלק (10μ) גבוה (F) ו-F) כדי לעקוף את ה-F) ו-F (F) כדי לעמודים מקסימליים) כדי לעמוד על גבי חסימות אחוריים) כדי לעמוד על גבי ⁇ חיצוניות.

שלב-בי-שלב עיצוב נוהל

הגישה השיטתית הבאה תעזור לכם לאבן-טיפוס של מדגמת מתח פעילה עם תוצאות תלויות, מהתפיסה הראשונית לחומרה הנקראת ייצור.

דרישות הגנה

החל מלחץ ברור: מתח תפעולי מקסימלי (FLT:0reaVFLT:1opcioFLT:2FLT 3: 3), מתח קלפי הרצוי (FLT:4VirphVirFLT:5clampuaFLT 6FLT 7), מקסימום overtage ampude ומשך, מקסימום דליפה הנוכחית במהלך ניתוח רגיל, 5clampbit חייב להיות חסום פחות מ- 5D5 עד 5 ליטרים, 000 ליטרים, 000 חיובי, 000, 000 פחות מגובה של פחות מגובה של VFLT, 000 חיובי, 000, 000 יכול להיות חסום לפחות.

בחרו את Topology

(ב) גישה משותפת משתמשת ב- P-channel MOSFET בסדרה עם רכבת אספקה שווה ל-FLT:0VFLT:1clampuaFLT:2FLT Note של P-channels a bicapamp-a-Fampamp-a משתמשת בשני דגימה פשוטים ו-Suntative shuntators יעיל יותר, אשר יכול להשתמש בחלון המוצג ל-Extratextexitivetextexiti-uptexiti-Fertextial Note.

ערכים קבועים

(ב) [[1924]]]]]] [[1924]]]]]] [[1924]]]]]]]]]] [[1924]]]]]]]]]] [[1924]]]]]]]]]] [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]] [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]] [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]] [[1924]]]]]]]] [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]] [[1924]]]] [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]] [[1966]] [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]] [[[[1966]]]]]] [[1966]]]]]]]]]] [[1966]]]]]] [[1966]]]]]]]]]] [[[[1924]]]]]] [[[[1924]]]]]]]] [[1966]]]]]]]]]] [[[[[[1966]] [[19

סימולציה לפני שנמכר

השתמש בכלים סימולציה SPICE כגון LTspice או TINA-TI כדי לאמת את התנהגות clamp. inject atrapezoidal גלform ולצפות את הפלט.בדוק את יציבות הדגימה: מעבר קלפי חד יכול לגרום טבעת.הוספת קלפי פיצוי קטן של 10 עד 100 pF מעבר לנתיב הדגמה אם יש צורך. לבדוק כי tuntor transtist אינו נשאר ליניארי גם כן, כמו כן, אשר יכול להבטיח את הטמפרטורות מתוחכמות מסוימות.

להרכיב ולמבחן באופן עצמאי

(ה) בנו את מעגל הדגד על לוח לחם או PCB ייעודי עם מטוס קרקע מוצק.מבחן ראשון עם מקור מתח מוגבל הנוכחי, לאט לאט להעלות את מתח הקלט תוך מעקב אחר הצומת עם אוקטילוסקופ מוצק, לבדוק כי הפלט עוקב אחר העומס הליני עד בדיוק FLT השני:0VFLT 1clampFancy:2Fancy 3 ולאחר מכן לשמור על לחץ דם גבוה יותר, אם יש צורך ברזולוציה גבוהה יותר של זמן קצר יותר, 000.

שינויים בעיצוב מתקדם ושיפורים

עקבו אחרי Noise Immunity

(ב) , ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇

עקבו אחרי Negative Voltages and AC Signals

עבור אודיו דו קוטבי או אותות אנלוגיים כי נדנדה סימטרית סביב הקרקע, דגימה כפולה-שומן כגון ±5 V יכול כוח clamp סימטרית. 2 הפניות להגדיר גבולות clamp חיובי שלילי.העיגול מעסיק שני אותות מקבילים מקבילה מ MOSFET, אחד כדי למשוך את הקו עד מתח clamp שלילי, והשני עבור למשוך למטה את ההשפעה החיובית clamp, כל אחד לחץ משותף על ידי טווח תגובה אחת משותפת עם קידוד אחד עם קידוד אחד.

בקרה דיגיטלית וזמינות

בציוד בדיקה אוטומטי או מערכות רכישה נתונים ניתנות להגדרה מחדש, סף הדגמה חייב להתאים למגוון רחב של אותות על הטיסה.על ידי החלפת ההתייחסות הקבועה עם מדמטר דיגיטלי חזק או קידוד DAC, מיקרו-בקר יכול להתאים את רמת ההגנה דרך I2C או SPI ממשק. זה מאפשר עיצוב אחד כדי לשרת ערוצים מרובים עם דרישות מתח שונות, צמצום של חשבונאות-חומריות של דוגמה להתאמה דיגיטלית, כאשר הוא מאפשר שינוי מהיר יותר, כאשר הוא מסוגלות של זמן, כלומר, עם שינוי מהיר יותר, כאשר הוא מאפשר עיצוב חד-256, כלומר, עם שינוי מהיר יותר, כאשר הוא מסוגלות, כלומר, כאשר הוא מאפשר עיצוב חד-256, כאשר הוא מאפשר עיצוב אחד, אם הוא מאפשר עיצוב חד-פעמי, עם שינוי מהיר יותר, עם שינוי מהיר יותר, עם שינוי מהיר יותר, עם יעילות, עם יעילות, עם יעילות, עם יעילות, עם יעילות, עם יעילות, עם יעילות, עם שינוי מהיר יותר, עם שינוי של זמן, עם שינוי מהיר יותר, עם שינוי מהיר יותר, עם שינוי יעיל, עם שינוי מוקדם יותר, עם שינוי של זמן, כאשר הוא מאפשר עיצוב חד-256, כאשר הוא מאפשר עיצוב אחד, כאשר הוא מאפשר עיצוב אחד, כאשר הוא מאפשר עיצוב אחד, כאשר הוא מאפשר עיצוב אחד כדי להבטיח את מידת

« « הצצה ל-Latching Fault Index

במערכות קריטיות בטיחות, פשוט clamping אינו מספיק; הבקר המארח צריך לדעת כי אירוע overvoltage התרחש. על ידי הוספת ספין-אפ-אפלופ או מארגן עם פלט פתוח-דרן כי latches כאשר clamp מעורב, דגל אשם יכול להיות נשלח ללוח GPIO.זה יכול לגרום הפרעה, אירוע, או ליזום רצף בטוח הסגור באמצעות פרק זמן מוגדר באופן אוטומטי, אם זה היה יכול להיות מוגדר באופן אוטומטי כדי לתקן את המערכת.

שיקולים ניהוליים

(ב) כאשר ה-[[המאה ה-20]], [[המאה ה-20]], [[1924]]]], [[1924]]]]]], [[1924]]]]]], [[1924]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]] [[1924]]]] [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]] [[1924]]]] [[1924]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]] [[1924]]]]]]]] [[1924]] [[1924]] [[1924]]]]]]]] [[1924]]]]]]]] [[1924]]]]]]]]]] [[1924]] [[1924]] [[[[1924]] [[1924

המונחים: Common design Pitfalls

מעגלים של הדגימה אקטיבית, בעודם חזקים, אינם חסינים מפני טעויות עיצוב עדינות.

  • (FLT:0) שלב הדגה מתהפך: ⁇ 1) כמה דגי האופי הישנים יותר למנוע את הפלט שלהם כאשר הקלט עולה על טווח משותף-המודה.תמיד לוודא כי ה-E-amp שנבחר הוא חופשי מ-שלב הפיכה, או להגביל את המתח עם מתנגדים חיצוניים.
  • (FLT:0) ריצוף: אספקת הדגה 1 (Falve) חייבת להיות יציבה לפני שסימן הקלט מופיע; אחרת, הדג הלא מופעל יכול לספק נתיב התנהגות בלתי צפוי. השתמש בפיקוח ICs אם יש צורך או להבטיח את רצף מערכת ההפעלה המונע מספק את הדגימה הראשונה.
  • (FLT:0)Farasitic capacitance at the clamped Node:Freave 1: תוספת קיבולת מאט את התגובה ויכול לגרום לשיא. השתמש בטכניקות הפריסה קומפקטיות ולהימנע ממטוסים קרקעיים גדולים ישירות מתחת לקו האות.A 10 pF capacitance עשוי להגדיל את הרזולוציה על ידי 20 אחוזים בלולאה מהירה.
  • (ב) ⁇ (ב) ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇
  • (FLT:0) תקופת הביקורת לא תואמת:FreaLT:1) עיכוב ההתפשטות של הדגימה בשילוב עם עיכוב המעבר של הטרנזיסטטור השטני חייב להיות פחות מאשר הזמן העולה של ה transient המהיר ביותר. a clamp איטי יאפשר לספיצינור באופן איטי יותר כדי לעלות על הגבול הבטוח.

יישום אמיתי בעולם Scenarios

הגמישות של הדגמת מתח מבוסס דגימת מתח מבוססת הדגימה הובילה לאימוץ שלהם בתחומים מגוונים:

  • (FLT:0Data Converter Protection:FLT:1 , במהירות אנלוגית-ל-דיגיטליים יש מגבלות מתח מחמירות. A clamp המעגל ממוקם בין מגבר חיישן לבין קלט ADC יכול להגן מפני מגבר גבוה יותר של תקלות מגבר על פני התמותה ללא יחס קידוד-לא-מס.
  • (FLT:0) מנוע חיישן Interfaces:FLT:1 רכב 12 V ו -24 מערכות V ניסיון transientses-dump כי יכול לעלות על 100 V. a Active clamp בשילוב עם רגולטורים דלת-דרופ מגן על קלטי מיקרובקר ADC נגד המשקעים הקשים האלה תוך שמירה על דיוק עבור ניטור מתח תקין.
  • (FLT:0Medical Instrumentation: FIRLT:1) ציוד הקשור לחולה חייב להגביל זרמי דליפה ומתח לרמות בטוחות עבור IEC 60601. קלפי Active clamps שנבנו עם אספקת אספקת אספקת אספקת אספקת דגימה צף לספק שכבת הגנה מדויקת, דיוק מעבר למחסומים בידוד בסיסיים. a clamp רפואי טיפוסי משתמש דגימת כפול-שומן עם ± V2.5 מפולס ל- ECG.
  • (FLT:0) כרטיסי קו טלקום: FLT:1 פאוור גולש ו transients המושרה ברק על קווי קו מתפתלים הם מצופים על ידי מעגלים crowbar פעילים אשר מתפזרים אנרגיה באופן מבוקר, מהדהדים באופן אוטומטי לאחר תת-קרקעית transient. אלה מעגלים לעתים קרובות לשלב שעון-כלב כדי לא לחתוך את הדגד לאחר תקלות, ומאפשרים לחדש את מערכת ההפעלה הרגילה ללא התערבות ידנית.
  • (FLT:0) אנליסט PLC Analog Inputs:FLT 1 בקרים לוגיים הניתנים לתוכנה חייב לקבל 0 עד 10 V או 4 עד 20 מ"א אותות מחיישנים מרוחקים. a Active clamp להגדיר עד 10.5 מגן V על קלט ADC מפני תקלות מתפתל, תוך כדי לאפשר החיישן לפעול באופן ליניארי עד 10 V.ה הנמוכה של קלפיפות נמוכה של קלפיפות להבטיח את דיוק של 20A.

השוואת Op-Amp Clamps עם הגנה ייעודית

(ב) קיימים מספר מערכות הגנה משולבות, כגון סדרת MAX3000E overvoltage Protector או את LT4356 גליגה-פסק (Ralance) על גבי לוח זמנים (Ralep-uptture) של LT) או על גבי כלי הגנה קטנים יותר (Ralp) אשר מאפשרים שימוש בתבניות סטנדרטיות יותר של Imp-upability (Op-F) באופן קבוע יותר) באופן עצמאי.

Bench Testing and אימות Metrics

מעבר לבדיקה פונקציונלית בסיסית, לאפיין ביסודיות את הדגד שלך עם המדידות האלה:

  • (FLT:0)Clamp דיוק:FLT:1 מודד את המתח המחוספס עם רבמטר מעוקל בטמפרטורה, למשל מ -40 מעלות C עד +85 ° C. השגיאה צריכה להיות הסכום של סחף ההתייחסות וגלומת דגימה מרוטטה.
  • (FLT:0Leakage הנוכחי במהלך ניתוח רגיל:FreaLT:1) באמצעות יחידת חישוב מקור או מדמטר רגיש, ודא כי המעגל שואב דליפה תת-מיקרו-אמפרי מן הקו מוגן כאשר הקלט הוא מתחת לסף. עבור חיישנים בעלי השפעה גבוהה, דליפות מתחת 10 nA היא קריטית.
  • (ב) [ה]] [ה] [ה]] [ה]] [ה]] [ה]]][ה]]][ה]]][ה]]][ה]]]][ה]]]][ה]]], [ה[[ה[[המאה ה-20]]], ו[[ה[[ה[[ה[[המאה ה-20]]]]]],]],]],]], [[ה[[המאה ה[[המאה ה[[המאה ה[[המאה ה[[המאה ה[[המאה ה[[המאה ה-20]].
  • (ב) [ה]הביצועים הגלויים: [ה] כאשר הסרת ההתעלות, ה-Climp צריך לשחרר ללא היסטרנסיס אם לא התכוון, והאות צריך לחזור אל הנתיב הליני עם נצנצ'ט מינימלי.תפס את השחרור טראנסי ולהבטיח שהוא ייישב בתוך הדרישה הממושכת של המעגל במורד הזרם.
  • (FLT:0)Stability תחת כל תנאי העומס:FLT:1 לבחון את המעגל עם עומס קיבולי על הצומת clamped, סימולטור של ADC קלט capacitance, כדי להבטיח לא oscillation. הוסף סדרה קטנה התנגדות של 10 עד 50 ⁇ בפלט של קלאמפ אם מתרחשת, אבל להיות מודע לכך הוא מגביר את הדגמה בגלל מתח מעט.

בניית מגן על רובוסט

יישום מעגל clamp מתח עם amplifier תפעולי הופך תוכנית הגנה רגילה למכשיר מדויק.צמד זהיר של הדגמה דלת- off-set, התייחסות יציבה, ורכיב מכווץ מהיר מניב קלפט שיכול להיות מתואם כדי לנטרל את הדיוק והמהירויות תת-מיקרו-שניות של טיפול רפואי.