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तर्क द्वार डिजिटल सर्किट में मूलभूत घटक हैं। इन फाटकों में दोष इलेक्ट्रॉनिक प्रणालियों में खराबी पैदा कर सकते हैं। नैदानिक और परीक्षण पैटर्न का उपयोग करके दोषों को कुशलतापूर्वक पहचान और अलग करने में मदद मिलती है, उचित सर्किट ऑपरेशन सुनिश्चित करती है।
तर्क गेट दोष को समझना
लॉजिक गेट्स में दोष को अटक-बंद दोष, दोषों को नष्ट करने या दोषों में देरी के रूप में वर्गीकृत किया जा सकता है। जब एक गेट का आउटपुट तार्किक उच्च या निम्न पर तय हो जाता है, तो स्टुक-at दोष तब होता है जब इनपुट सिग्नल की परवाह किए बिना। ब्रिजिंग दोष तब होता है जब दो संकेत अनजाने में कनेक्ट होते हैं, जिससे गलत लॉजिक स्तर होता है। विलंब दोषों में टाइमिंग मुद्दों को शामिल किया जाता है जो सिग्नल प्रचार को प्रभावित करते हैं।
फॉल्ट डिटेक्शन के लिए नैदानिक पैटर्न
नैदानिक पैटर्न विशिष्ट इनपुट संयोजन हैं जो तर्क द्वार के भीतर गलती को सक्रिय करने और प्रकट करने के लिए डिज़ाइन किए गए हैं। ये पैटर्न आउटपुट प्रतिक्रियाओं को देखकर विभिन्न दोष प्रकारों के बीच अंतर करने में मदद करते हैं। इन पैटर्न को व्यवस्थित रूप से लागू करने से सर्किट में दोषपूर्ण घटकों की शीघ्र पहचान हो सकती है।
दोष अलगाव के लिए टेस्ट पैटर्न
परीक्षण पैटर्न मरम्मत के बाद या विनिर्माण के दौरान तर्क द्वार के सही संचालन को सत्यापित करने के लिए उपयोग किया जाता है। वे विभिन्न दोष परिदृश्यों को कवर करने के लिए डिज़ाइन किए गए हैं, यह सुनिश्चित करते हुए कि सर्किट कार्यों को इरादा के रूप में किया गया है। आम परीक्षण पैटर्न में छोटे सर्किट के लिए व्यापक परीक्षण और जटिल प्रणालियों के लिए यादृच्छिक परीक्षण शामिल हैं।
- विशिष्ट इनपुट संयोजन लागू करना
- निगरानी उत्पादन प्रतिक्रियाओं
- अपेक्षित मूल्यों की तुलना में
- स्थिरता के लिए परीक्षण दोहराना