製造工程を監視・制御するために、統計プロセス制御(SPC)が用いられています。 変化の特殊原因を検知し、品質を維持し、プロセスを改善するために不可欠です。 定量的な方法は、これらの原因を正確に特定するための目的のツールを提供します。

特殊原因を理解する

特別な原因は、プロセスに固有のものではなく、異常なイベントや変更を示す変化です。 これらの原因を特定することで、標的された介入が問題を修正し、欠陥を防ぐことができます。

共通の量的技術

制御グラフ、プロセス能力分析、統計仮説テストなど、SPCの特別な原因を検出するために、いくつかの定量方法が使用されます。 これらの技術は、一般的な原因の変動と特殊な原因の信号を区別するのに役立ちます。

制御チャート

制御チャートは、プロセスデータを時間をかけてプロットするグラフィカルなツールです。 これらには、期待する範囲のバリエーションを定義する制御限界が含まれます。 これらの制限の外側のポイントや制限内のパターンは、特別な原因の存在を示すことができます。

検出方法

主検出方法は次のとおりです:

  • 西洋電気規則:]]制御チャート上の信号を識別するための条件のセット。
  • [] 実行テスト:[]] は、データシーケンス内の非ランダムなパターンを検出します。
  • []シャーハートルール:[]]は、制御限界や傾向を超えたポイントを特定します。
  • [ 統計的仮説テスト:[ 観察されたバリエーションが統計的に有意であるかどうかのテスト。