X-ray diffraction (XRD)는 재료의 결정 구조를 분석하는 데 사용되는 기술입니다. 그것은 크리스탈에서 원자 비행기 사이의 거리 인 interplanar 간격을 계산하는 데 사용할 수있는 데이터를 제공합니다. XRD 데이터를 해석하는 방법을 이해하는 것은 재료 특성화 및 분석에 필수적입니다.

X-ray Diffraction Data를 이해하십시오.

XRD 데이터는 일반적으로 특정 각도에서 피크를 보여주는 diffraction 패턴으로 표시됩니다. 이 피크는 크리스탈 비행기로 X-ray의 확산과 대응합니다. 각 피크의 위치는 Bragg의 법칙을 통해 interplanar 간격과 관련이 있습니다.

Interplanar Spacings를 선택

Bragg의 법은 interplanar 간격을 계산하는 데 사용되는 기본 방정식입니다. 그것은 다음과 같이 표현됩니다.

nλ = 2d sin θ]

위치:

  • n]는 diffraction의 순서입니다 (보통 1)
  • λ]는 X-ray의 파장입니다.
  • d는 interplanar 간격입니다
  • θ는 브래그 각도 (절절절각의 반)입니다.

d를 위해 해결하기 위한 방정식 배열:

d = λ / (2 sin θ)

계산 적용

interplanar 간격을 결정하기 위해, 본에서 diffraction 각 (2θ)를 측정하십시오. 이 각을 2로 곱하여 θ를 찾아내십시오. X 선 근원의 알려진 파장을, 일반적으로 Cu Kα 방사선을 위한 1.54 Å 사용하십시오. 산출하기 위하여 공식에 이 가치를 폐쇄하십시오.

예를 들어, 피크가 2θ = 30°에 나타나면 θ = 15°. λ = 1.54 Å를 사용하여 :

d = 1.54 Å / (2 sin 15°) ≈ 1.54 Å / (2 × 0.2588) ≈ 1.54 Å / 0.5176 ≈ 2.97 Å