MOSFET được sử dụng rộng rãi trong các mạch điện tử để chuyển đổi và mở rộng. Chế độ thất bại giúp cải thiện uy tín và thiết kế. Bài này trình bày các ví dụ trên thế giới về sự phân tích lỗi MOSFET, tập trung vào việc quá tải và tham số bị trôi dạt.

Quá nóng những thất bại

Quá nóng là nguyên nhân thông thường gây ra sự hỏng hóc của máy chạy vì quá nóng, gây ra sự mất điện không đủ nhiệt, gây ra thiết bị bị bị hỏng hóc sau vài giờ hoạt động.

Phân tích thất bại cho thấy sự mất nhiệt, nơi mà nhiệt độ tăng lên gây ra các dòng nước bị rò rỉ cao hơn, làm tăng nhiệt độ cao hơn.

Đoạn văn Tham số

Sự trôi dạt bao gồm các thay đổi tính chất MOSFET theo thời gian, ảnh hưởng đến hiệu suất mạch điện cao, trong một ứng dụng chuyển đổi mức độ cao, điện áp của ngưỡng chuyển dần, giảm hiệu suất. phân tích cho thấy sự thoái hóa lớp ô-xít, làm nước bị rò rỉ ngày càng nhiều.

Sự trôi dạt này được truy ra từ việc tiếp xúc lâu với điện áp cao và nhiệt độ cao.

Những chế độ sai khác

Các chế độ hỏng hóc khác bao gồm việc xả điện (ESD) và việc sản xuất khuyết tật. ESD có thể gây ra sự hỏng hóc tức thời hoặc tổn thương tiềm ẩn sau đó.

  • Căng thẳng quá mức
  • Thiệt hại cơ khí
  • Các yếu tố môi trường